Perbandingan X-Ray Fluorescence (XRF) Dan Inductively Coupled Plasma-Optical Emission Spectrophotometer (ICP-OES) Untuk Analisis Nikel Dan Besi Dalam Sampel Converter Slag Pada Industri Pertambangan Nikel

Abstract

Telah dilakukan penelitian mengenai perbandingan alat X-Ray Fluorescence dan Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrophotometer untuk analisis nikel dan besi dalam sampel converter slag. Analisa Ni dan Fe dalam sampel converter slag dilakukan dalam beberapa tahap dimulai dari proses preparasi sampel mentah, proses penganalisaan dalam bentuk basah dengan metode peleburan sampel dengan Na₂O₂ memakai instrumen fluxer, terakhir analisis Nikel dan Besi menggunakan Inductively Coupled Plasma (ICP). Penelitian ini dilakukan dengan penimbangan sampel sebanyak 0.25 gram ke dalam cawan kemudian ditambahkan 0.5 gram Na₂O₂, dicampur merata lalu didestruksi sampai sempurna dan dianalisis dengan ICP. Berdasarkan hasil penelitian dan uji T-2 sampel menunjukkan tidak ada perbedaan yang signifikan pada analisis nikel dengan XRF maupun ICP-OES, namun ada perbedaan untuk analisis besi (Fe). Kadar nikel dalam sampel Converter Slag cukup tinggi sehingga masih layak diproses kembali untuk memperoleh nikel. Kata kunci : Converter Slag, Peleburan dengan Na₂O₂, Fluxer, Inductively Coupled Plasma (ICP)